This page uses JavaScript and requires a JavaScript enabled browser.Your browser is not JavaScript enabled.
مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی
منو
درگاههای جستجو
مدارک
جستجوی پیشرفته
مرور
جستجو در سایر کتابخانه ها
مستندات
جستجوی پیشرفته
مرور
منابع دیجیتال
تمام متن
اصطلاحنامه
درختواره
پرسش و پاسخ
سوالات متداول
پرسش از کتابدار
پیگیری پرسش
ورود
ثبت نام
راهنما
خطا
رکورد قبلی
رکورد بعدی
"
Parody of the Shakespearean Fool Tradition in an African Society
"
Durotoye A. Adelek
Document Type
:
BL
Record Number
:
574602
Doc. No
:
b403821
Main Entry
:
Kirkland, Earl J.
Title & Author
:
Advanced Computing in Electron Microscopy\ by Earl J. Kirkland.
Publication Statement
:
Boston, MA :: Springer US :: Imprint: Springer,, 1998.
ISBN
:
9781475744064
:
: 9781475744088
Contents
:
1 Introduction -- 2 The Transmission Electron Microscope -- 3 Linear Image Approximations -- 4 Sampling and the Fast Fourier Transform -- 5 Simulating Images of Thin Specimens -- 6 Simulating Images of Thick Specimens -- 7 Multislice Applications and Examples -- 8 The Programs on the CD-ROM -- A Plotting CTEM/STEM Transfer Functions -- B Files on the CD-ROM -- C The Fourier Projection Theorem -- D Atomic Potentials and Scattering Factors -- D.1 Atomic Charge Distribution -- D.2 X-Ray Scattering Factors -- D.3 Electron Scattering Factors -- D.4 Parameterization -- E Bilinear Interpolation -- F 3D Perspective View.
Abstract
:
pending
Subject
:
Engineering.
Subject
:
Computer engineering.
Subject
:
Optical materials.
Subject
:
Surfaces (Physics).
Added Entry
:
SpringerLink (Online service)
https://lib.clisel.com/site/catalogue/1076516
کپی لینک
پیشنهاد خرید
پیوستها
عنوان :
نام فایل :
نوع عام محتوا :
نوع ماده :
فرمت :
سایز :
عرض :
طول :
10.1163-18757421-040001001_26158.pdf
10.1163-18757421-040001001.pdf
مقاله لاتین
متن
application/pdf
1.11 MB
85
85
نمایش
نظرسنجی
نظرسنجی منابع دیجیتال
1 - آیا از کیفیت منابع دیجیتال راضی هستید؟
X
کم
متوسط
زیاد
ذخیره
پاک کن