رکورد قبلیرکورد بعدی

" Parody of the Shakespearean Fool Tradition in an African Society "


Document Type : BL
Record Number : 574602
Doc. No : b403821
Main Entry : Kirkland, Earl J.
Title & Author : Advanced Computing in Electron Microscopy\ by Earl J. Kirkland.
Publication Statement : Boston, MA :: Springer US :: Imprint: Springer,, 1998.
ISBN : 9781475744064
: : 9781475744088
Contents : 1 Introduction -- 2 The Transmission Electron Microscope -- 3 Linear Image Approximations -- 4 Sampling and the Fast Fourier Transform -- 5 Simulating Images of Thin Specimens -- 6 Simulating Images of Thick Specimens -- 7 Multislice Applications and Examples -- 8 The Programs on the CD-ROM -- A Plotting CTEM/STEM Transfer Functions -- B Files on the CD-ROM -- C The Fourier Projection Theorem -- D Atomic Potentials and Scattering Factors -- D.1 Atomic Charge Distribution -- D.2 X-Ray Scattering Factors -- D.3 Electron Scattering Factors -- D.4 Parameterization -- E Bilinear Interpolation -- F 3D Perspective View.
Abstract : pending
Subject : Engineering.
Subject : Computer engineering.
Subject : Optical materials.
Subject : Surfaces (Physics).
Added Entry : SpringerLink (Online service)
کپی لینک

پیشنهاد خرید
پیوستها
عنوان :
نام فایل :
نوع عام محتوا :
نوع ماده :
فرمت :
سایز :
عرض :
طول :
10.1163-18757421-040001001_26158.pdf
10.1163-18757421-040001001.pdf
مقاله لاتین
متن
application/pdf
1.11 MB
85
85
نظرسنجی
نظرسنجی منابع دیجیتال

1 - آیا از کیفیت منابع دیجیتال راضی هستید؟