منو
رکورد قبلیرکورد بعدی

" Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits / "


Document Type : BL
Record Number : 583519
Doc. No : b412738
Main Entry : Ker, Ming-Dou
Title & Author : Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits /\ Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
Publication Statement : Singapore ;Hoboken, NJ :: Wiley ;[Piscataway, NJ] :: IEEE Press,, c2009
Page. NO : xiii, 249 p. :: ill. ;; 26 cm
ISBN : 9780470824078 (cloth)
: : 0470824077 (cloth)
Bibliographies/Indexes : Includes bibliographical references and index
Subject : Metal oxide semiconductors, Complementary-- Defects
Subject : Metal oxide semiconductors, Complementary-- Reliability
Dewey Classification : ‭621.39/5‬
LC Classification : ‭TK7871.99.M44‬‭K47 2009‬
Added Entry : Hsu, Sheng-Fu
copyhttps://lib.clisel.com/site/catalogue/583519
کپی لینک
پیشنهاد خرید
پیوستها
Search result is zero
نظرسنجی
نظرسنجی منابع دیجیتال

1 - آیا از کیفیت منابع دیجیتال راضی هستید؟