منو
رکورد قبلیرکورد بعدی

" Analog IC reliability in nanometer CMOS "


Document Type : BL
Record Number : 601970
Doc. No : b431189
Main Entry : Maricau, Elie
Title & Author : Analog IC reliability in nanometer CMOS\ Elie Maricau, Georges Gielen
Publication Statement : New York, NY :: Springer,, c2013
Series Statement : Analog circuits and signal processing
Page. NO : 1 online resource
ISBN : 9781461461630 (electronic bk.)
: : 1461461634 (electronic bk.)
: 9781461461623
Bibliographies/Indexes : Includes bibliographical references and index
Subject : Linear integrated circuits-- Reliability
Subject : Metal oxide semiconductors, Complementary
Dewey Classification : ‭621.3815‬
LC Classification : ‭TK7874‬‭.M37 2013‬
: ‭TK7874‬‭.M37 2013‬
Added Entry : Gielen, Georges
Added Entry : Ohio Library and Information Network
copyhttps://lib.clisel.com/site/catalogue/601970
کپی لینک
پیشنهاد خرید
پیوستها
Search result is zero
نظرسنجی
نظرسنجی منابع دیجیتال

1 - آیا از کیفیت منابع دیجیتال راضی هستید؟