|
" Raster-Elektronenmikroskopie "
[von] L. Reimer [und] G. Pfefferkorn.
| Document Type
|
:
|
BL
|
| Record Number
|
:
|
758739
|
| Doc. No
|
:
|
b578705
|
| Main Entry
|
:
|
[von] L. Reimer [und] G. Pfefferkorn.
|
| Title & Author
|
:
|
Raster-Elektronenmikroskopie\ [von] L. Reimer [und] G. Pfefferkorn.
|
| Publication Statement
|
:
|
Berlin: New York, Springer, 1973
|
| Page. NO
|
:
|
(xi, 263 pages) illustrations
|
| ISBN
|
:
|
3662000830
|
|
|
:
|
: 9783662000830
|
| Contents
|
:
|
1. Einleitung --; 1.1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektronenmikroskopes --; 1.2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop --; 1.3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektronenstrahlgeräten --; Literatur zu {sect} 1 --; Monographien und Tagungsbände --; 2. Wechselwirkung Elektron-Materie --; 2.1. Einleitung --; 2.2. Elektronenstreuung am Einzelatom --; 2.3. Streuung in einer durchstrahlbaren Schicht --; 2.4. Elektronendiffusion in kompaktem Material --; 2.5. Rückstreuung und Sekundärelektronen-Emission --; Literatur zu {sect} 2 --; 3. Elektronenoptik, Aufbau und Funktion des Raster-Elektronenmikroskopes --; 3.1. Elektronenoptische Grundlagen --; 3.2. Abrasterung und Fokussierung --; 3.3. Objektveränderungen durch Elektronenbeschuß --; 3.4. Objektkammer und Detektoren --; 3.5. Elektronik und Bildaufzeichnung --; 3.6. Spezielle Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie --; Literatur zu {sect} 3 --; 4. Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen --; 4.1. Oberflächentopographie --; 4.2. Materialkontrast --; 4.3. Channelling-Diagramme und Orientierungskontrast --; 4.4. Abbildung und Messung elektrischer Potentiale --; 4.5. Abbildung und Messung magnetischer Objektfelder --; 4.6. Abbildung mit internen Probenströmen und elektromotorischen Kräften --; Literatur zu {sect} 4 --; 5. Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie --; 5.1. Spezielle Eigenschaften des Rasterprinzips in Transmission --; 5.2. Realisierung des Transmissionsbetriebes --; Literatur zu {sect} 5 --; 6. Materialanalyse mit Augerelektronen, Röntgen- und Lichtquanten --; 6.1. Physikalische Grundlagen der Röntgenquanten- und Augerelektronen-Emission --; 6.2. Wellenlängen- und energiedispersive Röntgenanalyse --; 6.3. Kossel-Diagramme --; 6.4. Kathodolumineszenz --; Literatur zu {sect} 6 --; 7. Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen --; 7.1. Stereoaufnahmen --; 7.2. Stereometrie --; 7.3. Optische Transformationen --; Literatur zu {sect} 7 --; 8. Präparation --; 8.1. Einleitung --; 8.2. Präparatmontage und Oberflächenvorbereitung --; 8.3. Stabilisierung der Objekte --; 8.4. Kleine Teilchen und durchstrahlbare Präparate --; 8.5. Abdruckverfahren --; 8.6. Vermeidung von Aufladungen --; 8.7. Erweiterung der Bildinformation --; Literatur zu {sect} 8.
|
| Subject
|
:
|
Instruments d'optique.
|
| Subject
|
:
|
Optique électronique.
|
| Subject
|
:
|
Scanning electron microscopes.
|
| LC Classification
|
:
|
QH212.S3V665 1973
|
| Added Entry
|
:
|
Gerhard Pfefferkorn
|
|
|
:
|
Ludwig Reimer
|
| |