رکورد قبلیرکورد بعدی

" Robust Design and Test of Analog "


Document Type : BL
Record Number : 788094
Doc. No : b608114
Main Entry : Mixed-Signal Circuits in Deeply Scaled CMOS Technologies.
Title & Author : Robust Design and Test of Analog\ Mixed-Signal Circuits in Deeply Scaled CMOS Technologies.
Publication Statement : INTECH Open Access Publisher, 2010
ISBN : 9533070498
: : 9789533070490
Notes : 1.
Subject : Open Access Collection.
LC Classification : ‭TK7874.75‬‭M594 2010‬
Added Entry : Guo Yu
: Peng Li
کپی لینک

پیشنهاد خرید
پیوستها
Search result is zero
نظرسنجی
نظرسنجی منابع دیجیتال

1 - آیا از کیفیت منابع دیجیتال راضی هستید؟